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English(EN) SMIC's third-gen 7nm node shows smaller metal pitch than Intel 18A, higher transistor density than TSMC N6 without EUV — analysis of N+3 shows significant advancement for Chinese semi manufacturing

中芯国际7纳米制程取得进展,在无EUV情况下密度可比台积电N6

中芯国际的第三代7纳米级制造技术N+3,其金属间距小于Intel 18A,晶体管密度可与依赖EUV的制程相媲美,超越了台积电的N6制程。这一进展,从华为麒麟9030 SoC的分析中可以看出,尽管面临出口限制,仍是中国半导体制造业的重大进步。然而,N+3制程的晶体管密度并未转化为整体竞争力,与同代其他制造商的旗舰处理器相比,麒麟9030在性能和能效方面存在不足。 AI

影响 这项制造技术的进步可能最终影响AI芯片的成本和性能,尽管目前的性能指标尚不具备竞争力。

排序理由 对中国主要制造商的一款新型半导体制造节点的分析,并与全球主要竞争对手进行了比较。[lever_c_demoted from significant: ic=1 ai=0.7]

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中芯国际7纳米制程取得进展,在无EUV情况下密度可比台积电N6

报道来源 [1]

  1. Tom's Hardware TIER_1 English(EN) · Anton Shilov ·

    SMIC's third-gen 7nm node shows smaller metal pitch than Intel 18A, higher transistor density than TSMC N6 without EUV — analysis of N+3 shows significant advancement for Chinese semi manufacturing

    SMIC's N+3 process technology can achieve transistor density comparable to TSMC's N6 without using EUV lithography, but it fails to deliver performance or efficiency of modern production nodes.