PulseAugur
实时 03:04:21
实体 semiconductor metrology

semiconductor metrology

PulseAugur coverage of semiconductor metrology — every cluster mentioning semiconductor metrology across labs, papers, and developer communities, ranked by signal.

Show in brief
总计 · 30天
1
90 天内 1
发布 · 30天
0
90 天内 0
论文 · 30天
1
90 天内 1
层级分布 · 90 天
主题
情绪 · 30 天

1 天有情绪数据

最近 · 第 1/1 页 · 共 1 条
  1. RESEARCH · CL_107897 ·

    扩散模型为半导体计量生成合成TEM图像

    研究人员开发了一种去噪扩散概率模型(DDPM),用于生成高保真合成透射电子显微镜(TEM)图像,以用于半导体计量。该方法解决了真实TEM数据稀缺的问题,而真实TEM数据因样品制备具有破坏性、成像速度慢和成本高昂而受到限制。DDPM框架采用渐进式基于块的训练策略,并整合了TrivialAugment适应和RePaint风格修复等技术,以生成保留结构和空间真实感的高保真合成图像,达到了高MS-SSIM分数和专家验证。除了图像生成,该模型的…