Julian Speith

新的SAMSEM方法将SAM2应用于集成电路金属线分割

研究人员开发了SAMSEM，一种用于分割集成电路（IC）图像中金属线的新方法，该方法改编自Meta的Segment Anything Model 2（SAM2）。该方法采用多尺度分割策略，并结合了基于拓扑的损失和基于像素的损失，以关注电气连接性。SAMSEM在各种集成电路、技术节点和制造过程中表现出强大的泛化能力，即使在未见过的数据上也能实现低错误率。