研究人员开发了一种新颖的数值方法来估算数字电路的容错能力。该方法利用生成对抗网络(GAN)对位配置进行采样,并将理想输出与实际信号进行比较,从而识别由错误模式引起的偏差。该方法通过区分与各种逻辑元件相关的故障影响,来评估电子设计鲁棒性。 AI
排序理由 该集群包含一篇学术论文,详细介绍了使用生成网络估算数字电路容错能力的新方法。[lever_c_demoted from research: ic=1 ai=0.7]
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