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optical microscopy
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新方法改进光学显微镜下XRF图谱的定位
研究人员开发了一种在新方法，用于在光学显微图像中定位X射线荧光（XRF）图谱，解决了两种具有不同对比机制和分辨率的成像模式数据对齐的挑战。所提出的技术对XRF瓦片组定位进行了形式化，其中利用采集几何作为约束，为整个XRF瓦片组估计在光学框架中的单一位置。与独立瓦片放置的0.000相比，该方法显著提高了定位精度，在对照研究中实现了0.931的GroupIoU。在多尺度研究中，使用粗略的XRF调查扫描将平均GroupIoU从0.694提高…
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SkelEM框架通过信号解耦提升体视显微镜分辨率
研究人员开发了SkelEM，一种用于体视显微镜轴向超分辨率的新型自监督框架。该方法将拓扑骨架提取和基于扩散的细节增强的训练信号解耦，解决了先前方法如平滑纹理或结构幻觉的局限性。SkelEM以最少的步骤实现了高保真细节恢复，并在不同模态之间表现出强大的泛化能力，在膜分割等下游任务上优于现有的自监督方法。