Multi-Descriptor Deviation

新方法利用膜电位实现脉冲神经网络的低计算量分布外检测

研究人员开发了一种名为 Vmem-φ 的新方法，用于在脉冲神经网络 (SNN) 中检测分布外 (OOD) 数据。SNN 在处理事件相机数据方面具有能效优势。该方法利用从神经元亚阈值膜电位派生的统计数据，提供了一种低计算量的解决方案。引入了一个基于 Prophesee Gen1 数据集的新基准 Gen1-C 来评估该方法，该方法在有限的观察窗口内，在多种损坏情况下实现了超过 0.88 的 AUROC。