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RESEARCH · CL_65397 · Jun 1 · 16:06

AI模型弥合半导体视觉程序合成中的仿真到真实差距

研究人员开发了一个新颖的视觉程序合成框架，以解决半导体检测中的仿真到真实差距。该方法使用视觉语言模型（VLM）将检测图像转换为可编辑代码，从而实现精确的几何控制和数据生成。通过采用输入二值化策略，该模型可以有效地去除真实世界扫描电子显微镜（SEM）图像中的噪声和纹理，使其能够专注于关键的几何结构并提高准确性。