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Mid-circuit measurements

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  1. TOOL · CL_309307 ·

    新“Lifting”框架提升量子中途测量性能

    研究人员开发了一个名为Lifting的新框架，以提高量子计算中途测量的可靠性。该框架利用神经网络进行量子态判别，解决了连续测量过程中噪声和状态退化带来的挑战。Lifting结合了重复编码、神经解码和原地校准以提高准确性，并在IBM处理器上针对各种量子工作负载进行了评估。