Md Mushfiqur Rahaman

新的XCT-SAM框架改进了工业扫描中的缺陷分割

研究人员开发了XCT-SAM，一种用于分割工业X射线计算机断层扫描（XCT）图像中缺陷的新颖框架。该方法通过采用顺序参数高效自适应策略来解决类别不平衡和域偏移等挑战。XCT-SAM首先在合金-微观结构数据集上微调适配器，然后转移到XCT数据，逐步缩小域差距。该框架利用Conv-LoRA适配器注入空间归纳偏置，同时保持大部分模型冻结，在分布外基准和真实扫描中表现出卓越的性能。