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Dynamic Multi-Criteria Bottleneck Severity Index

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  1. TOOL · CL_169658 ·

    新AI框架精准定位半导体制造瓶颈

    研究人员开发了一种新的数据驱动方法,称为动态多准则瓶颈严重性指数 (DMBSI),用于实时识别半导体晶圆制造中最严重的瓶颈。该框架分析与周期时间、工艺参数和返工影响相关的多个信号,以创建瓶颈严重性的统一度量。在希捷科技 (Seagate Technology) 的制造执行系统日志上进行测试,经过遗传优化的 DMBSI 比现有方法提高了 8.1%,与观察到的周期时间贡献的皮尔逊相关系数为 0.80。DMBSI 还揭示了生产过程中瓶颈位置…