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bias temperature instability

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  1. RESEARCH · CL_128549 ·

    新的SMART框架使用机器学习加速数字电路可靠性分析

    研究人员开发了SMART，一个结合了机器学习和蒙特卡洛模拟的新框架，用于加速数字电路中晶体管老化和工艺变化的分析。该方法使用随机森林回归和贝叶斯优化来预测门延迟分布，显著减少了分析时间并保持了高精度。SMART旨在为设计更可靠的数字系统提供可扩展的解决方案，以解决深纳米CMOS技术中传统仿真方法的局限性。