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实体 atomic force microscopy

atomic force microscopy

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  1. TOOL · CL_233591 ·

    新的TAPVid-MV基准测试跨多个摄像头视图测试三维点跟踪

    研究人员推出了一款名为TAPVid-MV的新基准测试,旨在评估跨多个同步摄像头视图跟踪三维空间中任意点的能力。该基准测试通过引入摄像头运动和长期跟踪,解决了现有数据集通常侧重于单个视频或静态摄像头设置的不足。TAPVid-MV包含284个序列,超过10万个点跟踪,均经过人工标注者验证,涵盖机器人、人类活动和自动驾驶等多个领域。初步评估表明,当前方法在此任务上面临挑战,令人惊讶的是,多视图跟踪器并不总是优于单目跟踪器,这凸显了几何恢复是…

  2. RESEARCH · CL_111635 ·

    RayPE编码提升视频生成模型的三维感知能力

    研究人员开发了RayPE,一种用于视频扩散Transformer的新型位置编码方法,可增强三维感知能力。与使用相机网格坐标的现有方法不同,RayPE结合了6D Plucker坐标来捕捉相机射线之间的几何关系。该方法将注意力分数分解为内容和几何项,两者都被发现对性能至关重要。该方法轻量级,为现有模型增加的参数不到0.1%,并在相机可控性、帧间三维一致性以及整体视频质量方面取得了改进。

  3. RESEARCH · CL_20473 ·

    深度学习模型以纳米级精度预测全芯片化学机械抛光纳米形貌

    研究人员开发了一种新颖的深度学习模型,能够以纳米级精度预测化学机械抛光(CMP)后的全芯片纳米形貌。该模型结合了白光干涉测量(WLI)和原子力显微镜(AFM)的数据,克服了现有密度阶差(DSH)建模速度慢且资源消耗大的局限性。提出的卷积神经网络(CNN)方法旨在加速集成电路(IC)行业的版图可制造性验证过程。