研究人员开发了一种名为TN-DCR（Transport-Network-Aware Dynamic Congestion Representation）的新方法来优化半导体制造工厂的路径调度。该系统使用历史运输段的有向图来预测交付时间和拥塞风险。通过整合结构化路径信息、网络范围的拥塞上下文和瓶颈暴露，TN-DCR为估计队列和传输时间的回归器和分类器提供输入。然后，这些信息被用于风险约束调度模型，以最小化预测的交付时间，同时限制极端拥塞的概率。在闭环评估中，该方法使平均交付时间减少了16.4%，内部资源等待时间减少了22.6%，而吞吐量基本保持不变。 AI
影响 这项研究可能通过改进物流，提高半导体制造的效率和成本效益。
排序理由 这是一篇详细介绍针对特定技术问题的新方法的学术论文。[lever_c_demoted from research: ic=1 ai=1.0]
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