研究人员开发了一种用于电子显微镜实验中采集和分析4D-STEM数据的自动化例程。该新系统利用编程接口控制显微镜功能,实现自动化数据收集并减少操作员偏差。该例程已被证明可以从纳米颗粒集合中提取详细的微观结构信息,包括取向、形状和相分布,以及从单个晶粒中进行原子分辨率相成像和晶格应变映射。 AI
影响 通过自动化复杂的数据收集和分析来增强科学研究,可能加速材料科学领域的发现。
排序理由 这是一篇详细介绍科学数据采集与分析新方法的学术论文。[lever_c_demoted from research: ic=1 ai=0.4]
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