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RESEARCH · CL_08306 · Apr 28 · 12:39

New benchmark RealMat-BaG assesses AI bandgap prediction for semiconductors

研究人员开发了一个名为 RealMat-BaG 的新基准，用于评估机器学习模型预测半导体带隙的可靠性。目前在计算数据上训练的模型由于数据保真度和域泛化问题，往往无法推广到实验测量。该基准包含一个开放的实验带隙数据集，并评估了各种机器学习模型，揭示了它们预测真实半导体性能能力的重大局限性。